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发表于 2025-3-17 15:56:09 |只看该作者 |倒序浏览
1.设计极限性在IC的集成端被限制;
2后端天线的阵列堆叠及空间要求又有多大;
3.测试方式是否是限制在ota模式,传导模式该怎么定位调整信号质量;
4.系统级测试要如何安排。

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